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簡(jiǎn)要描述:CMM CONTURA高性能蔡司三坐標測量機廣泛適用于各類(lèi)型工件的測量,其獨到的蔡司固定臺面 CARAT 材質(zhì)橋式結構,高穩定低運動(dòng)重心設計,高精度掃描測頭系統及眾多技術(shù)優(yōu)勢,確保了系統的精度及動(dòng)態(tài)性能,高剛性結構提高了系統對于環(huán)境的抗干擾性能及長(cháng)久的穩定性。
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一、產(chǎn)品基本介紹
1、設備名稱(chēng):蔡司三坐標測量機
2、設備型號: CMM CONTURA 7/10/6 RDS
3、設備品牌及產(chǎn)地:卡爾蔡司/德國
二、測量機技術(shù)規格
蔡司三坐標測量機廣泛適用于各類(lèi)型工件的測量,其獨到的蔡司固定臺面 CARAT 材質(zhì)橋式結構,高穩定低運動(dòng)重心設計,高精度掃描測頭系統及眾多技術(shù)優(yōu)勢,確保了系統的良好精度及動(dòng)態(tài)性能,高剛性結構提高了系統對于環(huán)境的抗干擾性能及長(cháng)久的穩定性。
機型 | CMM CONTURA 7106 RDS |
測量機設計 | 高性能固定臺面橋式機體設計 |
測量范圍(mm) | X=700 Y= 1000 Z= 600 |
工件尺寸(mm) | 寬 B17= 827 長(cháng) B16= 1350 高 B18= 600 |
機器外形尺寸(mm) | 寬 B6= 1381 長(cháng) B5= 1913 高 B7= 2658 |
整機重量(kg) | 1570 |
工件重量 (kg) | 730 |
掃描速度 | 125 |
空間運動(dòng)速度 | 475 |
空間運動(dòng)加速度 | 1850 |
長(cháng)度測量誤差MPE-E0/E150 (ISO10360-2:2009) (μm) | 1.5 + L/ 350 |
E0 重復性范圍 MPL-R0 (ISO10360-2:2009) (μm) | 1.5 |
單探針形狀探測精度 MPE-PFTU (ISO 10360-5:2010)(μm) | 1.5 |
形狀測量誤差 MPE-RONt(MZCI) ISO 12181)(μm) | 1.5 |
掃描誤差 THP(μm)/檢測時(shí)間 MPT(s)(ISO 10360-4:2000) | 2.7 / 50 |
保證以上精度的溫度范圍及梯度,濕度要求 | 18 - 22°C, 1.5 K/d, 1 K/h, 1 K/m, 30-60 % |
電源 | 1/N/PE 125/230/240 VAC ~ (±10%); 50-60Hz (±3.5%),功耗:800 VA,典型功耗:200 W |
壓縮空氣 供氣壓力 | 最小 6 bar, 8bar,預清潔. 耗氣量約: 50Nl/min. 壓縮空氣質(zhì)量遵循 ISO 8573 part 1: class 4 |
認證 | 2006/42/EC,EMC directive 2004/108/EC. ISO 9001:2008; VDA 6, Parts 4, 2,ISO 14001:2004,BS OHSAS 18001:2007,ISO/IEC 17025:2005 |
三、系統技術(shù)特色
技術(shù)特色:高科技機體材料設計
ZEISS CMM CONTURA 采用高精度橋式測量機的主要結構形式,具有更佳的測量空間開(kāi)敞性。低重心設計確保運動(dòng)過(guò)程的穩定性,精益求精的氣浮軸承間隙確保驅動(dòng)配合的可靠性,高質(zhì)量減震系統受地基影響相對較小,保證機器具有長(cháng)期的精度穩定性。
CONTURA 具有佳的機械精度,集團秉承了一百七十多年精耕細作的傳統,實(shí)行業(yè)界嚴格的品質(zhì)管控 ZEISS QC 要求。同時(shí),蔡司將材料科技運用:測量系統導軌(橫梁和 Z 軸)配備高科技 DLC 鉆石涂層材料。DLC 鉆石涂層材料各項物理材料性能均表現,DLC 涂層材料彈性模量略低于金剛石(1100GPa),但明顯高于一般金屬的彈性模量可達 170-300Gpa, DLC 鉆石涂層材料具有優(yōu)異的耐磨性,摩擦系數低至 0.1,是一種優(yōu)異的表面抗磨損新型材料。
VAST XXT 低測力掃描探頭特點(diǎn):
Ø 可以單點(diǎn)探測;
Ø 可以?huà)呙杼綔y;
Ø 手動(dòng)探測時(shí)不受操作人員影響;
Ø 可以根據名義值掃描;
Ø 可以?huà)呙栉粗€(xiàn);
Ø 可以自定心打點(diǎn);
Ø 測量力可調(不需重新校準探針);
Ø 探測加速度可調;
Ø 標準既能在豎向也可同時(shí)在橫向連接探針;
Ø GDT 測量 (尺寸,形狀和位置) 可測量多種角度位置;
Ø 測量力小: 低測力使探針接觸工件時(shí)變形更??;
Ø 最小探針直徑 0.3mm;
Ø 精確 – 可測量尺寸,形狀, 位置;
Ø 探測力可通過(guò)軟件調節 (VAXT XXT: 0.01-0.13N);
Ø 掃描速度快 ( 150 點(diǎn)/秒);
Ø 三個(gè)探頭模塊,可使用長(cháng)的探針 (30-125,125-250,30-150mm), 可側面連接或星形探針(側邊探針最長(cháng) 65mm);
Ø 校準可修正探針彎曲。
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郵箱:13967146609@126.com
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